蛍光・発光測定
顕微分光・蛍光測定装置
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顕微集光系にカセグレン鏡を採用。広いワーキングディスタンスで色収差のない測定ができます。
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光学系を水平に配置しており、照射側カセグレン鏡を回転することにより、1台の装置で透過測定と蛍光測定の配置切り替えができます。
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光源 : キセノンランプ
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照射波長範囲 : 230~800nm
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照射サイズ :Φ20μm
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検知器 :CCD検知器
蛍光量子収率測定装置 特許第4336775号取得(産業技術総合研究所と共同特許)
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積分球方式およびCCD検知器の採用により短時間で正確な効率を求めることができます。
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フォトルミネッセンス(PL)およびエレクトロルミネッセンス(EL)両方の材料に対応しています。
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測定試料 : PL/EL素子
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測定モード : DC(PL/EL)・AC(EL)
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測定方式 : 積分球式CCD分光システム
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補正 : 基準検知器による感度補正
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PL光源 : 分光器付キセノン光源
近赤外蛍光分光測定装置
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強力な紫外光を励起して、その近赤外領域における蛍光を高感度で測定できる装置です。
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カーボンナノチューブなどの材料の評価に有効です。
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光源や回折格子・検知器の選択により、紫外・可視・近赤外の広い領域の蛍光スペクトル測定ができます。
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励起光源としてレーザを使用することも可能です。
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ロックインアンプを使用しており、高感度でS/N比に優れた測定が行えます。
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励起用光源 : キセノンランプ 500W
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励起波長領域 : 230~800nm
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蛍光検出器 : InGaAsPINフォトダイオード
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測定波長領域 : 900~1900nm