分光応答度(分光感度)測定

 

シリコンフォトダイオードやCCD・CMOSイメージセンサーなどの光電子変換デバイス(光検知器・センサ)の分光応答度(分光感度)の測定に用いられます。低迷光で広帯域波長領域での測定が出来ます。

 


NEW

VS-250 センサ分光特性測定システム(コンパクトタイプ)

 

  • フォトダイオードやCCD・CMOSイメージセンサーなどの分光特性評価に最適です。
  • あらゆるセンサに対応可能な波長範囲300~1700nmをカバーしています。
  • 設定したエネルギもしくはフォトン数をソフトウェアで選択するだけで容易に分光特性(分光感度・分光応答度)の測定が可能です。

 


VC-250 センサー分光感度測定システム (高精度タイプ)

 

  • シリコンフォトダイオードをはじめ、光電変換デバイスの分光応答度(分光感度)の測定に用いられます。
  • 最大3桁の単色光の光量可変が可能です。
  • リアルタイムモニタによる光量フィードバック機構により、高安定な定エネルギー・定フォトン照射が可能です、 
  • オプションで、設定波長による単色光I-V測定にも対応しています。

 


ミクロ分光感度測定装置

 

  • パッケージシリコンフォトセンサなど各種光電変換素子の分光感度(A/W)・量子効率(QE)の測定に用いられます。
  • 照射スポットがΦ200μm(またはΦ400μm)と小さく、微小素子でも正確な測定が可能です。
  • 絶対分光感度校正シリコンフォトダイオードを基準検知器としています。