分光計器株式会社
太陽電池材料評価装置
イオン化エネルギー測定装置
◇大気、窒素、真空下でイオン化エネルギー（仕事関数）を測定する装置です。
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ＢＩＰ－ＫＶ２０１ イオン化エネルギー測定装置 ※各種、特別仕様に対応いたします。 | ||
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測定法 |
光電子収量分光法 （環状電場光電子捕集法） |
| 仕 様 |
測定波長範囲 真空中：300～130nm(4.1～9.5eV) 窒素中：300～150nm(4.1～8.3eV) 大気中：300～195nm(4.1～6.4eV)
光源：重水素ランプ（Xeランプはオプション） | |
キャリア移動度測定装置
◇薄膜評価における電子やホールの移動度を測定する装置です。
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ＣＭＭ－２５０ 高感度キャリア移動度測定装置 ※各種、特別仕様に対応いたします。 | ||
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測定法 | タイムオブフライト法 |
| 仕 様 |
測定移動度範囲 10-7～10-3cm2/V・sec 光源 窒素励起型色素レーザ 測定時間分解能 10nsec 以下 試料室 常温タイプ遮光型 （クライオスタットはオプション） | |
サブギャップバンドギャップ構造解析装置
◇一定光電流法を用いて半導体薄膜や各種光伝導材料のバンドギャップ構造
を解析するためのシステムです。
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CPM測定装置 ※各種、特別仕様に対応いたします。 | ||
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測定法 |
CPM法（Constant Photocurrent Method) |
| 仕 様 |
光源 ハロゲンランプ エネルギー範囲 0.6～2eV(500～2100nm) 照射面積 6×6mm 照射強度 100nW～6nW(5%以内） 面内均一性 ±10％以内 | |
| 太陽電池用分光透過率・反射率測定装置 ※各種、特別仕様に対応いたします。 | ||
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対 象 |
各種太陽電池 |
| 特 徴 |
照射光の入射角度及び検出角度を任意に設定して、透過率・反射率を測定できます。高感度ＣＣＤを使用し、極微弱光を一度に広波長域に渡って検出することができます。 | |
