材料評価（電気）

 

BIP-KV100　イオン化エネルギー測定装置（9.54～4.0eV 卓上型タイプ）

 
  • 試料雰囲気を大気、窒素、真空下でイオン化エネルギー（仕事関数）を測定する装置
  • 分光器および光学系を窒素パージタイプにすることで、最大9.54eV迄の真空紫外光を試料に照射することが可能
  • コンパクトな卓上型

 

BIP-KV201　イオン化エネルギー測定装置（9.54～4.0eV 床置き架台タイプ）

 
  • 試料雰囲気を大気、窒素、真空下でイオン化エネルギー（仕事関数）を測定する装置
  • 分光器および光学系を窒素パージタイプにすることで、最大9.54eV迄の真空紫外光を試料に照射することが可能
  • オプションでグローブBOXを追加する事が可能

 

BIP-M25　イオン化エネルギー測定装置（6.2～3.1eV 床置き架台タイプ）

 
  • 試料雰囲気を大気、窒素、真空下でイオン化エネルギー（仕事関数）を測定する装置
  • 測定領域を6.2～3.1eVに限定することで、低価格を実現
  • 微小電流計を使用し、高感度を実現

 

PRS-1　受光素子応答速度測定装置

  • 光センサなど受光素子の応答速度を測定する装置
  • ナノ秒パルスLDは、波長375～1620nmの範囲で選択可能
  • 立ち上がり時間及び立ち下がり時間は、専用ソフトウェアで自動算出

 
LBC-2　レーザー光誘起電流測定装置

 
  • レーザー光を太陽電池などの試料に照射し、XYステージで移動させることで光電流マッピングを行う装置
  • ペロブスカイト太陽電池の均一性評価に最適
  • 520nmレーザーを搭載し、空間分解能約10μmを達成し、最大50×50mmのサンプルまで測定可能

 

BIP-FETS　FET測定装置
  • 電界効果トランジスタの特性を評価する装置
  • 測定したデータから、移動度、しきい値電圧を算出が可能

 

CMM-250　キャリア移動度測定装置
  • 薄膜評価における電子やホールの移動度を測定可能
  • 時間分解10n秒を達成
  • 10-7～10-3cm2/V.secの移動度測定が可能

 

SGA-25　サブギャップ光吸収スペクトル測定システム
  • 半導体薄膜や各種光伝導材料のバンドギャップ構造を解析可能
  • 吸収係数測定範囲は6桁と広いダイナミックレンジを実現
  • リアルタイムで光量を制御していますので、測定再現性が向上