特長

• 標準で350～850nmの透過率測定に対応。オプションで220～2000nmまで拡張が出来ます。
• 光源や検知器の変動をキャンセルする弊社独自のダブルビーム光学系により、測定再現性±0.2％以内を達成。高精度な透過率測定・反射率測定が行えます。
• オプションでプリズムの透過率測定にも対応し、一眼レフ用ペンタプリズムやビデオカメラBGR分解プリズムなどあらゆるプリズムの透過率測定にも対応が出来ます。
• P偏光・S偏光の測定の他、45°N偏光の直接測定が可能です。

干渉フィルタ測定データ

試料室内部

仕様

波長範囲	350～850nm（オプションで220～2000nm対応可）
測定項目	透過率0～100（％T）
測定精度	±0.2％以内
測定方式	バックグラウンド測定方式
補正方式	ダブルビーム2系統補正方式
波長純度	約2nm
波長正確さ	±0.1nｍ
照射光サイズ	約5×5mm
偏光角	0°45°90°（ソフトウェアにて設定可能）
光源	ハロゲンランプ150Ｗ
積分球	Φ100ｍｍ
検出器	光電子増倍管

標準構成

• ハロゲンランプ150W
• ハロゲンランプ電源150W用
• ハロゲンランプホルダ150W用
• 光源集光光学系
• モノクロメータ（M25-T）
• 回折格子1200本/500nmブレーズ
• 波長駆動機構
• シャッタ自動機構
• 高次光カットフィルタ自動機構
• 高次光カットフィルタ（各種）
• ダブルビーム光学系
• 偏光子（グラントムソン）
• 偏光子自動回転機構
• 積分球Φ100mm
• 光電子増倍管
• 試料台
• 校正用JQAフィルタ（4種　ケース付）
• 高精度測定用アンプ系
• インターフェースユニット
• 大型試料室
• 全体架台
• コンピュータ
• 専用ソフトウェア
• 取扱説明書

オプション

• 重水素ランプユニット（ランプ・電源・ランプホルダ）
• キセノンランプユニット（ランプ・電源・ランプホルダ）
• 2光源集光光学系
• 各種回折格子
• 各種高次光カットフィルタ
• シリコンフォトダイオード検出器（長波長拡張用）
• 積分球移動機構
• 各種試料台

外形寸法

• 電源：AC100V±10V　50/60Hz　10A
• 本体：約W2100×Ｄ900×H1750mm

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