※本装置は、静岡県先端企業育成プロジェクト推進事業費補助金のもと、日本真空光学株式会社と国立研究開発法人産業技術総合研究所　電子光技術研究部門  桑原 正史様　福田 隆史様との共同研究により開発を致しました。

特長

• 光学濃度OD10までの測定が可能です。
• 多層膜フィルタ・高濃度フィルタ・遮光フィルム・高濃度溶液などあらゆる低透過率測定に最適です。
• 弊社独自のダブルモノクロメータ配置により、サンプルの多重反射光や装置の迷光を低減しています。

測定データ

仕様

測定方式	ロックインアンプ方式およびフォトンカウンティング方式
測定波長範囲	350～700nm
測定波長純度	0.15～6nm（連続可変）
測定光学濃度（OD）	0～10 ・レンジ1：　0～6 ・レンジ2：　6～8 ・レンジ3：　8～10
入射光サイズ	約Φ10mm
測定データ保存形式	テキスト保存（CSV形式）

標準構成

• キセノンランプ500W
• キセノンランプ電源
• キセノンランプホルダ
• 光源集光光学系
• 第1モノクロメータおよび回折格子
• 試料室
• 第2モノクロメータおよび回折格子
• サンプルホルダ（Φ25.4mm、Φ30mm、Φ50mm用フィルタホルダ）
• 270Hzチョッパ機構
• シャッタ自動機構
• ロックインアンプ
• 光電子増倍管
• 連続濃度可変NDフィルタ機構
• 検知器集光光学系
• 総合コントローラ
• ソフトウェア

オプション

• He-Neレーザー
• 偏光解消板
• グラントムソン偏光プリズム
• 試料回転ステージ
• ゴニオステージ
• 光電子増倍管用電子冷却ユニット
• フォトンカウンティング測定器

外形寸法

• 電源：AC100V　15A
• 本体：約W2000×Ｄ800×H1200mm
  ＊突起部を除く＊

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